보유 특허

국내특허
번호 등록번호 특허명칭 등록일자
1 제10-1110327호 반도체 검사용 테스트 소켓 2012-01-19
2 제10-1086278호 커넥터 및 도전부재 2011-11-17
3 제10-1131105호 반도체 검사 장치 2012-03-21
4 제10-1193556호 피씨비 일체형 테스트 소켓 2012-10-16
5 제10-1173606호 피씨비 일체형 테스트 소켓 2012-08-07
6 제10-1254180호 반도체 검사용 테스트 소켓 2013-04-08
해외특허
번호 등록번호 특허명칭 등록일자
9 제10-1131105호 반도체 검사 장치 (대만 등록) 2014-03-16
10 제10-1173606호 반도체 패키지 (대만 등록) 2014-09-22
11 제10-1086278호 커넥터 및 도전부재 (대만 등록) 2012-03-21
디자인특허
번호 등록번호 특허명칭 등록일자
12 제10-1086278호 전기 커넥터용 하우징 2012-12-10
13 제10-1086278호 계측용 프로브핀 2012-11-21